干涉儀是利用光學(xué)干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的精密光學(xué)儀器。一般來說,只要是利用光干涉的原理來量測的儀器便可以稱為干涉儀。一般來說，最初入射光先經(jīng)過某種分束器(部分透射反射鏡)分成單獨的兩束光，可能有的光束會經(jīng)過外界環(huán)境的影響(例如，長度變化或者經(jīng)過折射率變化的透明介質(zhì))，然后在另一個分束器處光束再次符合。得到的光束功率的空間分布就可以用于測量。

　　光學(xué)干涉儀的應(yīng)用較為廣泛，主要有如下幾方面：

　　1、長度的精密測量

　　在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動數(shù)可進行長度的精確比較或絕對測量。

　　2、折射率的測定

　　兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導(dǎo)致光程差的改變，從而引起條紋移動。干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。

　　3、波長的測量

　　任何一個以波長為單位測量標(biāo)準(zhǔn)米尺的方法也就是以標(biāo)準(zhǔn)米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標(biāo)準(zhǔn)，利用干涉儀可精確測定光波波長。干涉儀(標(biāo)準(zhǔn)具)曾被用來確定波長的初級標(biāo)準(zhǔn)(鎘紅譜線波長)和幾個次級波長標(biāo)準(zhǔn)，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。

　　4、檢驗光學(xué)元件的質(zhì)量

　　干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。

　　5、其他應(yīng)用

　　用作高分辨率光譜儀。多光束干涉儀具有很尖銳的干涉，因而有的光譜分辨率，常用作光譜的精細結(jié)構(gòu)和超精細結(jié)構(gòu)分析。